基于VOF算法模擬EBW匙孔移動過程的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、電子束焊接匙孔形態(tài)是影響焊接質(zhì)量的主要因素之一。為了更準確的計算和分析焊接熱過程,必須更深入研究熔池中液態(tài)金屬的流體動力學狀態(tài)。
  本文通過對電子束焊接匙孔壁面受力平衡的研究,采用ANSYS軟件對電子束焊接過程溫度場、熔池流場以及匙孔形態(tài)進行了模擬。焊接過程中熔池溫度場與流場的分布狀態(tài)的研究,對于進一步研究電子束深熔焊機理和控制焊接質(zhì)量有著重要的意義。
  受力平衡研究表明,在電子束焊接過程中,匙孔壁面法向主要受金屬蒸氣反

2、沖壓力、表面張力附加壓力、流體靜壓力、熔池旋轉(zhuǎn)向心力的作用;切向上主要受切向速度引起的剪切力、表面張力梯度引起的切向力。當匙孔動態(tài)平衡時,受力達到平衡;對力的分布規(guī)律進行分析,認為金屬蒸氣反沖壓力和匙孔壁面表面張力是維持匙孔動態(tài)平衡的主要作用力。
  以匙孔壁面力學平衡條件為基礎(chǔ),建立了電子束焊接物理模型,并分別對匙孔縱向深入過程與橫向移動過程進行了模擬。在該模型中,采用匙孔自由界面跟蹤算法(引入 VOF模型)實現(xiàn)對匙孔形態(tài)變化的

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