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文檔簡介
1、電容層析成像技術(shù)(Electrical Capacitance Tomography,ECT)與電阻層析成像技術(shù)(Electrical Resistance Tomography,ERT)是兩種當前最為成熟的電學層析成像技術(shù)(ET),二者以成本低、實時性好、非侵入性以及無輻射等優(yōu)點在多相流參數(shù)檢測領(lǐng)域都有著廣闊的發(fā)展前景。其中,ECT對敏感場內(nèi)介電常數(shù)分布進行重建,ERT則對敏感場內(nèi)電導率進行重建,而實際多相流中既有介電常數(shù)分布特征也有
2、電導率分布特征,將二者有機融合可以拓寬其應用范圍,獲取更多的多相流參數(shù)信息同時也能夠提高測量精度。因此,基于ECT和ERT的雙模態(tài)層析成像系統(tǒng)的研究具有重要意義。
本課題從實時性與數(shù)字化兩個角度著手,針對ECT與ERT結(jié)構(gòu)的融合,提出了一種基于FPGA的新型雙模態(tài)層析成像系統(tǒng)的設(shè)計方案。在此基礎(chǔ)上,完成了其硬件及軟件平臺的搭建,并進行了相關(guān)測試與實驗。
本文主要完成了以下工作:
(1)學習當今典型雙模態(tài)技術(shù)
3、的發(fā)展情況;對實驗室原ECT和ERT單模態(tài)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)與性能進行對比分析;詳細討論了限制系統(tǒng)實時性和成像精度的主要技術(shù)瓶頸。在此基礎(chǔ)上,提出了基于FPGA的ECT/ERT雙模態(tài)層析成像系統(tǒng)的總體方案。
(2)在總體方案的基礎(chǔ)上,結(jié)合實際因素對系統(tǒng)各個部分的多種設(shè)計方案進行對比分析。完成雙模態(tài)傳感器、激勵源、信號檢測電路、模擬開關(guān)陣列、AD轉(zhuǎn)換電路以及通訊模塊的設(shè)計。
(3)設(shè)計基于FPGA的數(shù)據(jù)采集與預處理系統(tǒng),完成其串
4、口通訊、存儲器管理、模擬開關(guān)陣列控制等基本功能模塊及數(shù)字信號處理模塊的配置與設(shè)計,發(fā)揮FPGA并行的特點,改善系統(tǒng)的實時性與穩(wěn)定性,初步實現(xiàn)系統(tǒng)的數(shù)字化。
(4)分析并行采集模式引起的通道一致性問題,確定基于FPGA的硬件解決方案;分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集速率,在ECT或ERT單模態(tài)工作情況下數(shù)據(jù)采集速度為714.3幀/秒,雙模態(tài)工作時可以達到357.1幀/秒,高于原系統(tǒng)52.3幀/秒與14.6幀/秒的采集速度。
(5)基
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