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文檔簡介
1、從20世紀(jì)中葉到如今,光柵制作的工藝歷經(jīng)了幾個(gè)階段,最初的刻劃光柵制作條件苛刻,價(jià)格昂貴,耗時(shí)費(fèi)力,無法被大批量生產(chǎn)和廣泛使用。然而隨著激光器的誕生和全息照相技術(shù)的發(fā)明,全息光柵應(yīng)運(yùn)而生。與先前的刻劃光柵相比,全息光柵沒有鬼線,雜散光更小,分辨率和信噪比高,具有更優(yōu)越的光學(xué)性能。更為重要的是,制作全息光柵對(duì)設(shè)備環(huán)境的要求不像刻劃光柵那樣苛刻,成本也較低,因此有著廣闊的應(yīng)用前景。
全息光柵的制作流程大致可以分為六個(gè)步驟:
2、r> 1、基板準(zhǔn)備
2、涂膠,即光致刻蝕劑,用來記錄干涉條紋
3、曝光。兩相干光束以一定夾角彼此相遇,在空間形成明暗交替,平行等間距的干涉條紋,光致刻蝕劑把條紋信息記錄下來,形成潛像。
4、顯影
5、離子刻蝕
6、清潔處理
在第三步全息曝光的過程中,實(shí)際上就是相干光干涉,在光刻膠上形成有規(guī)律分布的潛像的過程。因此干涉條紋的穩(wěn)定性對(duì)于潛像質(zhì)量的高低有
3、著直接的影響,進(jìn)而影響掩模的形貌和離子刻蝕后光柵的槽型??紤]到干涉條紋穩(wěn)定性對(duì)全息曝光的重要意義,結(jié)合實(shí)驗(yàn)室實(shí)際,我將通過研究干涉條紋鎖定的方法,制作條紋鎖定裝置,保證全息光柵曝光過程中干涉條紋的穩(wěn)定性,為顯影、刻蝕后得到良好的光柵槽型提供保證。
本文依據(jù)反饋控制的理論,構(gòu)造閉環(huán)反饋控制回路,采用光電探測器進(jìn)行誤差信號(hào)(光信號(hào))的提取,經(jīng)過光一電轉(zhuǎn)換,得到電信號(hào),由于信號(hào)極其微弱,再先后通過前置放大,差動(dòng)放大,積分電路,對(duì)
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