2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)與智能電網(wǎng)存在許多共性技術(shù),將物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)應(yīng)用于智能電網(wǎng),有助于提高電網(wǎng)的信息化程度、能源利用率以及運(yùn)行可靠性,面向物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的智能電網(wǎng)是未來發(fā)展的一個(gè)重要方向。輸變電設(shè)備作為電網(wǎng)的基本組成部分,其運(yùn)行狀態(tài)直接影響智能電網(wǎng)的整體運(yùn)行。因此,對(duì)輸變電設(shè)備進(jìn)行在線監(jiān)測是保證電網(wǎng)可靠運(yùn)行的基礎(chǔ)。本文充分利用物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的優(yōu)勢,對(duì)基于WSN(Wireless SensorNetworks)與RFID(Radio Frequency Ide

2、ntification)融合技術(shù)的輸變電設(shè)備在線監(jiān)測系統(tǒng)進(jìn)行了深入的研究,主要研究內(nèi)容包括以下幾個(gè)方面。
  針對(duì)傳統(tǒng)輸變電設(shè)備在線監(jiān)測系統(tǒng)難以滿足故障定位精確、多參數(shù)集中監(jiān)測的現(xiàn)狀,提出一種新型輸變電設(shè)備在線監(jiān)測系統(tǒng)架構(gòu),分為信息感知層、數(shù)據(jù)通信層、信息融合層與綜合應(yīng)用層。對(duì)各層的功能進(jìn)行了詳細(xì)介紹,實(shí)現(xiàn)了輸變電設(shè)備集中監(jiān)測多種類型參數(shù)以及準(zhǔn)確定位故障設(shè)備。
  基于對(duì)WSN與RFID融合技術(shù)四種常用架構(gòu)方案的討論,本文提

3、出一種新型多傳輸方式監(jiān)測通信網(wǎng)絡(luò)。多傳輸方式監(jiān)測通信網(wǎng)絡(luò)主要由狀態(tài)監(jiān)測智能電子裝置(IED)與主IED構(gòu)成。狀態(tài)監(jiān)測IED是融合RFID標(biāo)簽的WSN節(jié)點(diǎn),主IED是融合閱讀器的匯聚節(jié)點(diǎn)。在多傳輸方式監(jiān)測通信網(wǎng)絡(luò)中,狀態(tài)監(jiān)測IED與主IED之間可以采用ZigBee技術(shù)與RFID技術(shù)進(jìn)行通訊?;赗FID技術(shù)通信協(xié)議簡單、能耗低的優(yōu)勢,狀態(tài)監(jiān)測IED與主IED優(yōu)先采用RFID技術(shù)通信,從而降低監(jiān)測通信網(wǎng)絡(luò)的整體能耗。當(dāng)RFID通信條件無法滿

4、足時(shí),狀態(tài)監(jiān)測IED與主IED再通過ZigBee技術(shù)通信。另外,為多傳輸方式監(jiān)測通信網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)了一種RFID優(yōu)先策略以及通信方式切換算法,使得狀態(tài)監(jiān)測IED與主IED能夠智能切換通信方式。
  重點(diǎn)研究了狀態(tài)監(jiān)測IED的設(shè)計(jì)。詳細(xì)闡述了狀態(tài)監(jiān)測IED的硬件選型。狀態(tài)監(jiān)測IED的設(shè)計(jì)采用了模塊化的思想,對(duì)狀態(tài)監(jiān)測IED的傳感標(biāo)簽進(jìn)行了一系列測試。仿真及測試結(jié)果表明,傳感器標(biāo)簽的天線回波損耗約為-13.1dB,載波頻率為865.8MHz

5、時(shí),傳感標(biāo)簽最大讀寫距離為18m,傳感標(biāo)簽驅(qū)動(dòng)電流和工作電流分別為520μA和210μA,性能優(yōu)于SL900A。為了降低狀態(tài)監(jiān)測IED的能耗,為狀態(tài)監(jiān)測IED設(shè)計(jì)了一種RFID射頻喚醒機(jī)制。當(dāng)狀態(tài)監(jiān)測IED無數(shù)據(jù)包需要發(fā)送時(shí),RFID喚醒機(jī)制使?fàn)顟B(tài)監(jiān)測IED的微處理器與無線通信模塊始終處于休眠狀態(tài)。當(dāng)狀態(tài)監(jiān)測IED有傳輸任務(wù)時(shí),主IED向狀態(tài)監(jiān)測IED發(fā)送射頻喚醒信號(hào),觸發(fā)狀態(tài)監(jiān)測IED的RFID標(biāo)簽,RFID標(biāo)簽產(chǎn)生外部中斷激活MCU

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