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文檔簡介
1、頻率合成器的性能指標對整個電子系統(tǒng)的性能起著決定性作用,現(xiàn)代電子系統(tǒng)對性能指標要求越來越高,因此高性能頻率合成技術(shù)的研究要求也越來越迫切。本文的主要工作內(nèi)容就是結(jié)合多種頻率合成技術(shù)對寬頻帶、低雜散、快捷變頻、小步進的高性能頻率合成技術(shù)展開研究[1,2]。
首先,本文對DDS結(jié)合直接頻率合成技術(shù)(DS)的設計方案進行仿真分析、指標核算,為了進一步驗證方案可行性,設計制作了方案中的部分單元電路并進行測試,對測試結(jié)果分析得出:在窄帶
2、輸出情況下,該方案在頻率步進、相位噪聲、雜散抑制度、變頻速度指標方面都表現(xiàn)出很高性能。
然后,為了避免DDS+DS在寬帶輸出時的雜散問題,采用了DDS+PLL的研究方案,對方案進行分析及指標估算,并設計制作了鎖相環(huán)路的關(guān)鍵電路對跳頻時間及相位噪聲等指標進行測試,測試結(jié)果表明,在設計合適的環(huán)路參數(shù)情況下,500MHz帶寬跳頻時間約為5 us,滿足課題研究的預期;頻綜輸出9GHz時相位噪聲測試結(jié)果為:-87dBc/Hz@1kHz,
3、-99dBc/Hz@10kHz。
最后,為了進一步改善相位噪聲,對DDS+PLL方案進行改善,環(huán)路反饋信號先進行下變頻,再進行分頻以降低分頻比,進而降低相位噪聲。綜合考慮課題要求及電路設計難度,確定最終設計方案并進行設計制作及測試。測試結(jié)果為:
頻率源輸出頻帶為34~36GHz,在整個輸出頻帶內(nèi)相位噪聲優(yōu)于:-88dBc/Hz@1kHz,-96dBc/Hz@10kHz,-102dBc/Hz@100kHz,相比最初的D
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