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文檔簡(jiǎn)介
1、靜電放電是電子產(chǎn)品的天敵,電子產(chǎn)品的靜電性能不僅直接關(guān)系到該產(chǎn)品的適用環(huán)境、性能好壞,還影響著公司的售后服務(wù)以及品牌形象,所以靜電防護(hù)的研究一直是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的重中之重,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和產(chǎn)品復(fù)雜程度的提高,靜電放電(Electro-Static Discharge,簡(jiǎn)稱ESD)對(duì)電子產(chǎn)品的危害也越來(lái)越被大家重視。
本文研究主要是以基于手機(jī)常用的液晶顯示模組(LCM,Liquid Crystal Display Module
2、)的防靜電方法及改進(jìn)為背景,詳細(xì)分析設(shè)計(jì)中會(huì)影響到模組的防靜電性能的主要因素,從而在模組設(shè)計(jì)時(shí)確定最優(yōu)的防靜電設(shè)計(jì)方案,以避免后期由于設(shè)計(jì)變更而影響到實(shí)際工程應(yīng)用進(jìn)程。
本文圍繞液晶顯示模組的防靜電設(shè)計(jì)展開(kāi)研究工作,首先針對(duì)目前國(guó)內(nèi)外的ESD現(xiàn)狀進(jìn)行調(diào)研分析,了解目前國(guó)際國(guó)內(nèi)的技術(shù)水平及國(guó)內(nèi)外的差異,回顧了靜電學(xué)的發(fā)展歷史;然后詳細(xì)介紹靜電放電的原理及測(cè)試方法,在此基礎(chǔ)上開(kāi)始針對(duì)不同集成電路芯片(IC,Integrated C
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