長(zhǎng)壽命宇航DC-DC轉(zhuǎn)換器檢測(cè)方法研究.pdf

1、作為航天電子設(shè)備最易失效的模塊之一，DC/DC轉(zhuǎn)換器可靠性過低是制約航天電子系統(tǒng)長(zhǎng)壽命工作的關(guān)鍵因素?，F(xiàn)有的基于標(biāo)準(zhǔn)和手冊(cè)的檢測(cè)方法并沒有考慮到器件的失效根本原因，因此也不能做出準(zhǔn)確的篩選。在大型武器裝備以實(shí)施視情維護(hù)為目的發(fā)展起來的PHM方法，將故障和壽命預(yù)報(bào)建立在失效物理基礎(chǔ)上，可以根據(jù)系統(tǒng)當(dāng)時(shí)的狀態(tài)對(duì)系統(tǒng)將來的故障做出提前的預(yù)報(bào)，后來這種方法發(fā)展成一種可以依據(jù)根本失效模型，對(duì)系統(tǒng)做出壽命預(yù)報(bào)的可靠性方法。
　　本文通過對(duì)DC

2、/DC轉(zhuǎn)換器在特定工作環(huán)境下的失效狀況的分析，確定了關(guān)鍵器件以及相應(yīng)的失效模式和機(jī)理。在輻照環(huán)境下，VDMOS的退化會(huì)導(dǎo)致 DC/DC轉(zhuǎn)換器效率下降；在長(zhǎng)時(shí)間高溫工作環(huán)境下，VDMOS的導(dǎo)通電阻增大也是影響轉(zhuǎn)換效率的一個(gè)因素；濾波電容的退化則是導(dǎo)致輸出紋波退化的最主要原因。通過建立DC/DC轉(zhuǎn)換器性能退化與器件退化之間的關(guān)系，確定了器件的失效閾值。最后提出了DC/DC轉(zhuǎn)換器的壽命預(yù)報(bào)方案與驗(yàn)證方案。
　　本文完成的工作及相關(guān)結(jié)論主

3、要有：
　　1)提出了DC/DC轉(zhuǎn)換器中關(guān)鍵元器件的分析方法，對(duì)轉(zhuǎn)換器中的VDMOS以及濾波電容進(jìn)行了失效模式和失效機(jī)理分析，并且通過建立DC/DC轉(zhuǎn)換器整體性能參量退化與其內(nèi)部易損單元參量退化之間的定性與定量關(guān)系，確定兩種失效模式對(duì)應(yīng)的失效先兆參量與表征參量。
　　2)提出了DC/DC轉(zhuǎn)換器中兩種不同失效模式對(duì)應(yīng)的壽命預(yù)報(bào)方法，建立了能夠表征性能退化與參數(shù)漂移的失效表征模型，且根據(jù)系統(tǒng)性能的輸出要求確定了先兆參量的失效閾值