FPGA測試系統(tǒng)的研究與設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)器件的應(yīng)用越來越廣泛，F(xiàn)PGA的測試技術(shù)和測試方法也受到了越來越多的重視和研究。FPGA的制造測試需要確保芯片在任何編程邏輯下都能可靠工作，因此需要設(shè)計多個測試配置和測試向量來保證測試的覆蓋率。為了滿足FPGA的制造測試對測試速度和自動化的要求，本文提出了一種改進的基于ATE(Automatic Test Equipment)的FPGA測試系統(tǒng)。ATE可保證對測試速度和自動化的要求，而使用FLASH存儲陣

2、列來存儲測試配置則解決了ATE自帶存儲空間有限且擴展成本高的問題，降低了測試成本。
　　 系統(tǒng)使用Xilinx USB下載線下載測試配置并通過RS-232C接口控制測試配置在FLASH存儲陣列中的存放位置，實現(xiàn)多個配置文件的存儲。在測試時，系統(tǒng)通過ATE控制測試配置的讀取和配置待測器件。論文首先對系統(tǒng)設(shè)計要求進行了分析，給出了系統(tǒng)設(shè)計的工作流程和整體實現(xiàn)架構(gòu)。然后，論文給出了測試板和以XC2S200為邏輯控制平臺的配置板的硬件設(shè)

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