雙片級聯(lián)微通道板的特性測試與應(yīng)用.pdf

1、雙片級聯(lián)微通道板(MicrochannelPlate，MCP)結(jié)構(gòu)具有高增益和暗電流小等明顯優(yōu)點，已逐漸成為有高增益要求的光電器件的核心結(jié)構(gòu)，因此對其性能的測試有十分重要的應(yīng)用價值。本文開展了對雙片級聯(lián)MCP的性能測試方法研究以及微通道板光電倍增管(MicrochannelPlate-PhotomultiplierTube，MCP-PMT)靜態(tài)性能測試系統(tǒng)的研制。
　　本文首先闡述了單片MCP和雙片級聯(lián)MCP的工作原理和評價參數(shù)，

2、在已有MCP噪聲測試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，提出了雙片級聯(lián)MCP的性能測試方案，設(shè)計了專用測試夾具，實現(xiàn)了增益測試。利用雙片級聯(lián)MCP和熒光屏組件的方法，將MCP輸出電流轉(zhuǎn)化為光信號，采用光電倍增管作為光探測器件，實現(xiàn)了輸出信噪比的測試。針對多組雙片級聯(lián)MCP，在不同的夾角、電壓和燈絲電流的情況下，設(shè)計了多組對比實驗，測試了雙片級聯(lián)MCP的夾角、兩端電壓和輸入電流密度對性能參數(shù)的影響，并對測試數(shù)據(jù)進行了分析，給出了實驗結(jié)果。其次，分析了大面積MC