基于AD5933的阻抗測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、阻抗測量用來研究測定一些物體的特性，廣泛地應(yīng)用于多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域。近些年來，阻抗測量技術(shù)不斷地發(fā)展，已從傳統(tǒng)的模擬方法演變到計(jì)算機(jī)及數(shù)字信號處理的方法。AD5933便是一款基于數(shù)字信號處理方法的芯片，專門致力于阻抗測量，利用它可以方便的進(jìn)行阻抗測量。本文基于此測量芯片，結(jié)合了嵌入式技術(shù)，研制出了一款便攜式阻抗測量系統(tǒng)，并針對此系統(tǒng)設(shè)計(jì)了相關(guān)的實(shí)驗(yàn)。
　　本文首先介紹了市面上典型的阻抗測量產(chǎn)品，然后簡述了阻抗測量的理論及方法，在此基礎(chǔ)上

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