基于多特征模型模擬電路測(cè)試選擇與驗(yàn)證.pdf

1、在電子電路中，普遍存在著數(shù)字部分和模擬部分，但大部分的故障發(fā)生在模擬電路，因此需要對(duì)模擬電路進(jìn)行測(cè)試與分析，但隨著電子系統(tǒng)變得越來越復(fù)雜，對(duì)模擬電路進(jìn)行測(cè)試選擇也變得越來越困難?，F(xiàn)有的模型建立方法精度不高且比較復(fù)雜，所使用的測(cè)試優(yōu)選方法搜索效率低、準(zhǔn)確度不高。針對(duì)以上問題，本文提出多特征信號(hào)模型來對(duì)模擬電路進(jìn)行分析，并以該模型為基礎(chǔ)來設(shè)計(jì)一種新的測(cè)試優(yōu)選方法對(duì)模擬電路進(jìn)行測(cè)試選擇，主要研究工作有：
　　1.多特征模型分析及其自動(dòng)建

2、模方法。結(jié)合多信號(hào)模型與多個(gè)特征的分析方法，通過獲取模擬電路上的測(cè)試節(jié)點(diǎn)的響應(yīng)波形數(shù)據(jù)，提取出多個(gè)測(cè)試特征信號(hào)，例如時(shí)域特征，頻域特征，統(tǒng)計(jì)特征，小波特征等多個(gè)特征來組成特征向量，來生成用于可測(cè)性分析的故障測(cè)試依賴矩陣，并在軟件層面上實(shí)現(xiàn)了模擬電路多特征模型的自動(dòng)生成。
　　2.實(shí)現(xiàn)了基于多特征模型的測(cè)試優(yōu)選方法。以故障測(cè)試依賴矩陣為基礎(chǔ)，將引力算法應(yīng)用到測(cè)試選擇上面，為了改善算法的尋優(yōu)速度和精度，對(duì)初始群體進(jìn)行優(yōu)化，引入群體反向

3、學(xué)習(xí)策略，并將粒子群算法中的粒子信息交流機(jī)制加入到算法中，這樣可以防止算法停滯在局部最優(yōu)解的附近，加快搜索速度，依此表明該算法具有較高的優(yōu)勢(shì)和準(zhǔn)確性。
　　3.測(cè)試驗(yàn)證。通過與遺傳算法、粒子群算法、標(biāo)準(zhǔn)引力算法對(duì)比，表明本文研究的改進(jìn)引力算法在搜索最優(yōu)測(cè)試集合上具有較快的速度和精度。從診斷的角度對(duì)優(yōu)選后的測(cè)試進(jìn)行分析，表明優(yōu)選后的測(cè)試對(duì)于電路的故障診斷具有較高的優(yōu)勢(shì)。以兩級(jí)四運(yùn)放低通濾波器等為測(cè)試驗(yàn)證實(shí)例，通過多特征建模分析方法來