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文檔簡介
1、相位噪聲用來說明信號短期頻率穩(wěn)定性和可靠性,是電子測量領(lǐng)域中的重要指標(biāo),相位噪聲測試在信號分析和測試中有著重要的地位。
論文旨在完成相位噪聲測試系統(tǒng)中數(shù)據(jù)通道的設(shè)計與實(shí)現(xiàn),為整個相位噪聲測試系統(tǒng)提供底層的數(shù)據(jù)鏈路支持。文中通過分析相位噪聲測試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)說明了相位噪聲測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)通道組成,包括將系統(tǒng)前端采集到的模擬信號通過模數(shù)轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換后送入數(shù)字電路中,F(xiàn)PGA電路對輸入的數(shù)字信號采用FIFO實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)緩存,將數(shù)字信號通過
2、位寬轉(zhuǎn)換送入DDR3 SDRAM存儲器中,當(dāng)存儲器中的所存的數(shù)據(jù)內(nèi)容達(dá)到預(yù)設(shè)值時,F(xiàn)PGA電路控制ADC采樣,將存儲器中的數(shù)據(jù)通過高速串行接口傳輸?shù)胶蠹塂SP信號處理系統(tǒng)中。
本文主要完成的工作有:
1.通過對鑒相法相位噪聲測試系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)和各部分功能分析,說明了測試系統(tǒng)中數(shù)字信號的數(shù)據(jù)通道組成。
2.介紹了雙通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器的配置操作原理和FIFO接口的設(shè)計使用,在此基礎(chǔ)上采用FPGA自帶的FIFO核生成器
3、實(shí)現(xiàn)了模數(shù)轉(zhuǎn)換電路與FPGA電路的獨(dú)立時鐘位寬轉(zhuǎn)換FIFO緩沖結(jié)構(gòu)的功能仿真。
3.介紹了DDR3 SDRAM存儲器的發(fā)展與工作原理,說明了DDR3 SDRAM控制器接口和控制器指令時序操作原理,采用Xilinx FPGA MIG核生成器生成DDR3 SDRAM控制器并做了功能仿真,在FPGA硬件開發(fā)板上對控制器的讀寫功能進(jìn)行了驗(yàn)證。
4.介紹了高速串行接口的系統(tǒng)組成,在此基礎(chǔ)上說明了Xilinx Virtex-6
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