基于等游程FDR編碼的數(shù)字電路測試壓縮方法研究.pdf

1、隨著集成電路規(guī)模不斷擴大，芯片上晶體管的集成度越來越高，芯片測試越來越困難，測試數(shù)據(jù)量越來越大，測試成本越來越高。如何提高測試壓縮率，降低測試成本成為集成電路測試應(yīng)考慮的一個重要問題。本文圍繞著這個問題提出了如下兩種測試壓縮方法。
　　（1）IFDR編碼是一種能同時對0游程和1游程編碼的改進型 FDR編碼方法，在一定程度上提高了壓縮率，但沒有考慮等游程的情況。本文在 IFDR的基礎(chǔ)上進行改進，提出一種基于游程相等編碼的FDR(ER

2、FDR)方法。首先，該方法不僅能同時對原測試集的0游程和1游程進行編碼，而且相鄰游程相等時可以用較短的碼字來代替，從而進一步提高了壓縮率。其次，本文還提出針對該壓縮方法的測試集 X（無關(guān)位）填充算法，增強提出方法的壓縮效果。實驗結(jié)果表明，與 Golomb，F(xiàn)DR，EFDR，IFDR相比較，提出方法獲得更高的壓縮率，降低了測試費用。
　?。?）EFDR-BC碼針對測試集中許多測試向量僅有少數(shù)位不相容的特點，將相容性好的向量分在一組，

3、進而只需要保存模板向量和差異向量。該方法取得較好的壓縮效果，但多個向量壓縮為一個向量，需要保存的信息較多，壓縮率反而受損。本文基于此提出一種改進的EFDR-BC壓縮方法。首先，定義了向量間的距離。其次，提出測試向量兩兩合并算法。在該算法中，以向量的距離為權(quán)值，選擇距離最近的兩個向量兩兩合并。最后，結(jié)合 ERFDR方法，提出一種改進型EFDR-BC碼和組向量編碼，并分別對合并后的向量編碼。實驗結(jié)果表明，與Golomb碼、FDR碼、EFDR