2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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1、隨著集成電路規(guī)模和設(shè)計(jì)復(fù)雜度的增加,驗(yàn)證已經(jīng)成為集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)開發(fā)過程中必不可少的一項(xiàng)重要環(huán)節(jié),并占據(jù)了大概70%的設(shè)計(jì)時(shí)間。由于FPGA能夠真實(shí)的模擬設(shè)計(jì)中硬件的功能,最貼近于設(shè)計(jì),并且可以快速驗(yàn)證芯片的的邏輯功能以及部分性能,特別是近些年FPGA芯片的性能不斷增強(qiáng),因此FPGA原型驗(yàn)證技術(shù)被越來越多的工程師所采用。在陣列型紅外讀出電路(ROIC)系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中,隨著陣列規(guī)模的增大,電路通常難以進(jìn)行大規(guī)模系統(tǒng)級(jí)仿真,因此無法有效地評(píng)

2、估電路系統(tǒng)的功能以及性能,迫切需要開展基于FPGA的ROIC陣列電路的驗(yàn)證工作。
  本文采用FPGA原型驗(yàn)證技術(shù)對(duì)ROIC電路進(jìn)行硬件驗(yàn)證及測(cè)試。首先,通過分析ASIC和FPGA物理架構(gòu)的不同,論文完成了ROIC電路的Verilog代碼生成以及修改移植工作,并針對(duì)FPGA難以實(shí)現(xiàn)數(shù)?;旌想娐返膯栴},本文基于FPGA中的PLL設(shè)計(jì)了一個(gè)多相高頻時(shí)鐘電路,完成ROIC電路中的模擬電路-低段TDC電路的替換工作。然后,本文對(duì)現(xiàn)有的多種

3、系統(tǒng)架構(gòu)進(jìn)行分析闡述,并結(jié)合特定的設(shè)計(jì)要求,基于FPGA進(jìn)行ROIC電路系統(tǒng)架構(gòu)驗(yàn)證,從面積、功耗、誤碼率等方面評(píng)估系統(tǒng)架構(gòu)性能優(yōu)劣,選擇TDC局部共享型架構(gòu)作為64×64ROIC電路系統(tǒng)架構(gòu)。最后,在此基礎(chǔ)上,采用“模塊級(jí)-系統(tǒng)級(jí)”驗(yàn)證方法進(jìn)行64×64ROIC電路功能和關(guān)鍵性能驗(yàn)證。
  本文采用ISE軟件進(jìn)行ROIC電路的FPGA實(shí)現(xiàn)和仿真驗(yàn)證,并通過NEXYS4驗(yàn)證平臺(tái)進(jìn)行板級(jí)調(diào)試驗(yàn)證。仿真驗(yàn)證結(jié)果表明,原有ASIC設(shè)計(jì)具

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