PANI和MWCNT改性PVDF薄膜環(huán)境穩(wěn)定性的影響研究.pdf

1、本文選用聚偏氟乙烯（PVDF）為基體，以聚苯胺（PANI）和多壁碳納米管（MWCNT）為導(dǎo)電填料，將PVDF/PANI、PVDF/MWCNT、PVDF/PANI/MWCNT這三種復(fù)合薄膜分別放入真空紫外環(huán)境、原子氧環(huán)境及二者的協(xié)同環(huán)境中進(jìn)行地面模擬空間輻照試驗(yàn)，通過對(duì)輻照后薄膜的電學(xué)性能、力學(xué)性能以及晶體結(jié)構(gòu)、表面形態(tài)等的研究，來探討空間輻照效應(yīng)對(duì)復(fù)合薄膜質(zhì)量損失、性能和結(jié)構(gòu)的影響。
　　研究結(jié)果表明，PVDF/PANI復(fù)合薄膜經(jīng)

2、過空間輻照后，質(zhì)量損失增大，力學(xué)性能退化，斷裂強(qiáng)度下降。真空紫外和原子氧輻照效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)下降，介電損耗系數(shù)和電導(dǎo)率升高；而真空紫外和原子氧的協(xié)同輻照效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)下降，介電損耗系數(shù)和電導(dǎo)率隨輻照時(shí)間的增加而下降。
　　PVDF/MWCNT復(fù)合薄膜經(jīng)過空間輻照后，質(zhì)量損失小于同時(shí)間內(nèi)PVDF/PANI復(fù)合薄膜的質(zhì)損；力學(xué)性能退化，斷裂強(qiáng)度下降；輻照后薄膜晶型衍射峰的相對(duì)強(qiáng)度減弱；輻照效應(yīng)使薄膜表面形態(tài)發(fā)生變化。

3、真空紫外效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)、介電損耗系數(shù)和電導(dǎo)率上升；原子氧輻照、真空紫外和原子氧的協(xié)同輻照效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)、介電損耗系數(shù)及電導(dǎo)率均小于未輻照薄膜。
　　PVDF/PANI/MWCNT三相復(fù)合薄膜在經(jīng)過空間輻照后，相較于前兩種復(fù)合薄膜，質(zhì)量損失居中。單一真空紫外輻照效應(yīng)和單一原子氧輻照效應(yīng)使薄膜的介電常數(shù)、介電損耗系數(shù)及電導(dǎo)率下降，力學(xué)性能退化，輻照表面出現(xiàn)孔洞和褶皺；而真空紫外和原子氧的協(xié)同輻照效應(yīng)加劇了復(fù)合薄膜表