半導(dǎo)體照明光源的加速壽命試驗(yàn)與壽命評(píng)估.pdf

1、隨著發(fā)光二極管（Light Emitting Diode，LED）在信息顯示和半導(dǎo)體照明光源等領(lǐng)域得到越來越廣泛的應(yīng)用，其可靠性的重要性也日益凸顯。但現(xiàn)有 LED可靠性研究成果大都集中在某單一LED模塊的失效分析方面，或應(yīng)用常規(guī)加速壽命試驗(yàn)對(duì)LED的可靠性進(jìn)行預(yù)測(cè)分析。由于LED壽命長(zhǎng)、更新?lián)Q代快，且壽命試驗(yàn)成本高、周期長(zhǎng)，因此，快速精準(zhǔn)地評(píng)估其可靠性，對(duì)指導(dǎo)LED光源系統(tǒng)的早期失效篩選和系統(tǒng)可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證均具有重要意義。
　　論

2、文從試驗(yàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理兩個(gè)方面，對(duì)LED光源系統(tǒng)的加速壽命試驗(yàn)進(jìn)行研究。首先在分析LED光源壽命影響因素的基礎(chǔ)上，選擇溫度和電應(yīng)力作為該加速退化試驗(yàn)的試驗(yàn)應(yīng)力，并確定測(cè)試參數(shù)、失效判據(jù)及試驗(yàn)應(yīng)力范圍。其次，提出了一種基于加速性能退化的LED光源的可靠性評(píng)估方法，包括：確定不同應(yīng)力水平的退化軌跡方程；根據(jù)給定的光通量失效閾值，推算每組應(yīng)力條件下試驗(yàn)樣品的偽失效壽命并估計(jì)最佳分布模型；構(gòu)建溫度、電應(yīng)力加速模型，外推正常使用條件下LE