基于常規(guī)X射線源分析晶體成像的模擬研究和實驗平臺的物理設(shè)計.pdf

1、與傳統(tǒng)的X射線成像技術(shù)相比（吸收襯度成像），相位襯度成像可以更加清楚地分辨出輕元素樣品的結(jié)構(gòu)特征，它已經(jīng)逐漸發(fā)展成為材料和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域不可或缺的技術(shù)，這也是目前國內(nèi)外的熱點研究方向。這篇論文中的重點是基于分析晶體 X射線成像，包括對該成像方法做的一部分模擬研究工作，和在國內(nèi)外的研究進展的基礎(chǔ)上對實驗平臺的物理設(shè)計。主要包括以下幾點：
　　1）根據(jù)國內(nèi)外的研究發(fā)展現(xiàn)狀分析對比了幾種主要的X射線相位襯度成像方法：類同軸全息、澤尼克成像、光

2、柵剪切和衍射增強。在充分了解相位襯度成像物理學(xué)基礎(chǔ)的前提下對基于分析晶體成像技術(shù)進行詳細介紹，分別對該成像技術(shù)下幾種不同的圖像獲取方法：衍射增強法、廣義衍射增強法和多圖成像法進行對比，最后選取提取折射角精度最高的多圖成像法作為主要的研究方向。
　　2）盡管利用統(tǒng)計學(xué)方法的多圖成像法所得到的折射角精度最高，它與理論值之間仍然有較大偏差。為了提取更加精確的折射角，論文將針對多圖成像方法本身存在的缺陷對其提出了幾種改進方案，通過模擬計算