三頻多周期模擬編碼光三維測量方法研究.pdf

1、三維測量技術(shù)因其智能化、便捷化和快速測量等特點(diǎn)，在工業(yè)生產(chǎn)、醫(yī)療、航天等諸多領(lǐng)域起到不可替代的作用。其中以相移法為代表的模擬編碼光測量方法因具有高分辨率和高采樣密度，成為三維測量領(lǐng)域中最具發(fā)展前景的測量方法。然而，在應(yīng)用單周期模擬碼進(jìn)行測量時，要求相鄰像素間具有高光強(qiáng)差，否則會導(dǎo)致抗干擾能力低的問題，而采用多周期模擬碼又會帶來多點(diǎn)相位值相同的問題。因此，本文以提高模擬編碼光抗干擾能力以及保證解相后相位無誤差展開為目的，提出了三頻多周期模

2、擬編碼光三維測量方法，包括系統(tǒng)聯(lián)合gamma值的標(biāo)定和校正效果明顯的gamma非線性校正。
　　在現(xiàn)有技術(shù)多步余弦相移法的基礎(chǔ)上，采用多周期模擬碼以增強(qiáng)相鄰像素之間光強(qiáng)差，以減小量化誤差，提高抗干擾能力;針對采用多周期相移編碼進(jìn)行測量時，相位取值存在二義性的問題，建立了三頻模擬編碼光相位展開模型，分析推導(dǎo)出數(shù)學(xué)公式，并通過理論分析，確定了本文中的相位展開方法對包裹相位的誤差容限，推導(dǎo)出三頻模擬編碼光組合的等效周期，給出組成編碼光的

3、最優(yōu)頻率組合;最后，對本文構(gòu)建的三維測量系統(tǒng)聯(lián)合gamma值進(jìn)行了標(biāo)定，并對非線性誤差進(jìn)行了校正，將gamma標(biāo)定技術(shù)結(jié)合三頻多周期余弦相移法，以及三頻相位展開方法進(jìn)行了三維測量實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)包括聯(lián)合gamma標(biāo)定與校正實(shí)驗(yàn)，本文三維測量方法對平面和復(fù)雜表面測量實(shí)驗(yàn)，本文三維測量方法與雙頻法、外差法的對比實(shí)驗(yàn)等，依據(jù)各實(shí)驗(yàn)得出的測量結(jié)果，對本文測量方法做出了評價。
　　通過理論分析和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本文測量方法與雙頻法相比，測量平均值提