嵌入式光源光譜及光電器件特性測試系統(tǒng).pdf

1、隨著光電信息產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，傳統(tǒng)的光電特性測試儀器設(shè)備，不僅功能受限，而且操作難度較大。系統(tǒng)集成化、小體積、多功能的光電器件特性測試系統(tǒng)成為高校和企業(yè)的首選測試系統(tǒng)。而國內(nèi)外對此類光電特性測試系統(tǒng)都處于探索階段，就目前而言，沒有一個(gè)教學(xué)級的光電特性測試系統(tǒng)能夠具有功能集成化、設(shè)備小型化、操作簡單化、界面友好化等特點(diǎn)。
　　本文提出并設(shè)計(jì)的嵌入式光源光譜及光電器件特性測試系統(tǒng)，在實(shí)現(xiàn)嵌入式硬件設(shè)計(jì)和Linux系統(tǒng)裁剪和移植的基礎(chǔ)上，

2、采用ARM架構(gòu)的嵌入式處理器和Linux系統(tǒng)作為信息處理中心，使用Qt制作人機(jī)交互界面，配合相應(yīng)的硬件電路完成測試系統(tǒng)的功能設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了光敏電阻、光電池和光電二極管等常用光電器件的光電特性測試和光譜特性測試，其中，測試的光電特性為光電器件的光照特性，光譜特性為光電器件的光譜響應(yīng)度。同時(shí)還實(shí)現(xiàn)了光源的發(fā)射光譜測試，可檢測400nm~1100nm波段范圍的光源光譜特性。
　　經(jīng)驗(yàn)證，本文設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)，能夠完成常用光電器件的光電特性和