超導加速度計磁串擾交叉耦合效應研究.pdf

1、垂向超導加速度計具有基本噪聲低、穩(wěn)定性好等優(yōu)點，但是在動態(tài)應用環(huán)境中，非敏感自由度的交叉耦合制約著超導加速計的實際分辨率。對于檢驗質(zhì)量全磁懸浮的超導加速度計，檢驗質(zhì)量在非敏感自由度的運動，會改變超導加速度計探頭內(nèi)部磁場分布，導致敏感自由度探測線圈的磁通量發(fā)生改變，引入磁串擾交叉耦合噪聲。由于邊界條件復雜，難以用理論計算的方法評估磁串擾交叉耦合效應。本文設(shè)計了一套實驗裝置對磁串擾交叉耦合進行了測量。
　　實驗裝置參照實際超導加速度計

2、的結(jié)構(gòu)參數(shù)進行設(shè)計，以納米位移臺調(diào)整檢驗質(zhì)量與線圈的位置姿態(tài)，通過給非敏感自由度超導線圈施加交變調(diào)制電流，模擬檢驗質(zhì)量在非敏感軸方向運動導致線圈的電流發(fā)生變化的情況；使用SQUID來測量耦合到探測回路的磁通變化，給出耦合磁通與變化電流的比值，即為磁串擾交叉耦合系數(shù)。本文測量了不同類型非敏感自由度超導線圈的磁串擾耦合系數(shù)，并且研究了成對線圈電流加載方式對耦合的影響。測量結(jié)果顯示，內(nèi)側(cè)壁線圈的磁串擾交叉耦合系數(shù)在10-3μWb/A量級，而外