LED襯底及外延專利分散測(cè)量與對(duì)策研究.pdf

1、在當(dāng)今能源緊缺的大環(huán)境下,LED以其低能耗的優(yōu)越性逐漸成為背光顯示以及照明產(chǎn)業(yè)的主力軍。襯底及外延制作作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)的基石,直接決定LED芯片的制造路線,對(duì)該技術(shù)的掌握與否,關(guān)系到生產(chǎn)制造LED產(chǎn)品的造價(jià)和規(guī)模。在開放式創(chuàng)新模式下,技術(shù)創(chuàng)新已成為L(zhǎng)ED襯底及外延制造企業(yè)發(fā)展的必經(jīng)之路。同時(shí),LED技術(shù)快速更新?lián)Q代,專利競(jìng)賽等導(dǎo)致大量的專利叢林問(wèn)題,從而可能出現(xiàn)專利分散現(xiàn)象。因此,對(duì)LED專利的分散度進(jìn)行測(cè)量,提出我國(guó)政府和企業(yè)可選擇

2、的專利戰(zhàn)略建議,對(duì)于促進(jìn)我國(guó)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展具有重要意義。
　　本文旨在探討LED襯底及外延專利的分散情況,并對(duì)出現(xiàn)這種分散性分布的原因進(jìn)行分析,借此對(duì)我國(guó)LED企業(yè)的發(fā)展提供專利信息支持和方向參考。通過(guò)對(duì)LED產(chǎn)業(yè)的整體把握,重點(diǎn)研究襯底及外延技術(shù),結(jié)合LED產(chǎn)業(yè)專利現(xiàn)狀,利用吉布斯-馬丁的專利分散度測(cè)量指數(shù)以及方差理論對(duì)襯底及外延專利進(jìn)行分散度測(cè)量。通過(guò)對(duì)LED襯底及外延生長(zhǎng)技術(shù)的專利檢索,再利用吉布斯-馬丁的專利分散度測(cè)量指數(shù)