電工電子產品加速壽命試驗

1、電工電子產品加速壽命試驗之一電工電子產品加速壽命試驗之一1概述概述壽命試驗是基本的可靠性試驗方法，在正常工作條件下，常常采用壽命試驗方法去評估產品的各種可靠性特征。但是這種方法對壽命特別長的產品來說，不是一種合適的方法。因為它需要花費很長的試驗時間，甚至來不及作完壽命試驗，新的產品又設計出來，老產品就要被淘汰了。因此，在壽命試驗的基礎上形成的加大應力、縮短時間的加速壽命試驗方法逐漸取代了常規(guī)的壽命試驗方法。加速壽命試驗是用加大試驗應力(

2、諸如熱應力、電應力、機械應力等)的方法，激發(fā)產品在短時間內產生跟正常應力水平下相同的失效，縮短試驗周期。然后運用加速壽命模型，評估產品在正常工作應力下的可靠性特征。加速環(huán)境試驗是近年來快速發(fā)展的一項可靠性試驗技術。該技術突破了傳統(tǒng)可靠性試驗的技術思路，將激發(fā)的試驗機制引入到可靠性試驗，可以大大縮短試驗時間，提高試驗效率，降低試驗耗損。2常見的物理模型常見的物理模型元器件的壽命與應力之間的關系，通常是以一定的物理模型為依據的，下面簡單介紹

3、一下常用的幾個物理模型。2.1失效率模型失效率模型是將失效率曲線劃分為早期失效、隨機失效和磨損失效三個階段，并將每個階段的產品失效機理與其失效率相聯(lián)系起來，形成浴盆曲線。該模型的主要應用表現(xiàn)為通過環(huán)境應力篩選試驗，剔除早期失效的產品，提高出廠產品的可靠性。布與強度分布一旦發(fā)生了干預，產品就會出現(xiàn)失效。因此，研究應力與強度模型對了解產品的環(huán)境適應能力是很重要的。2.3最弱鏈條模型最弱鏈條模型是基于元器件的失效是發(fā)生在構成元器件的諸因素中最

4、薄弱的部位這一事實而提出來的。該模型對于研究電子產品在高溫下發(fā)生的失效最為有效，因為這類失效正是由于元器件內部潛在的微觀缺陷和污染，在經過制造和使用后而逐漸顯露出來的。暴露最顯著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。2.4反應速度模型該模型認為元器件的失效是由于微觀的分子與原子結構發(fā)生了物理或化學的變化而引起的，從而導致在產品特性參數上的退化，當這種退化超過了某一界限，就發(fā)生失效，主要模型有Arrhenius模型和Eyr

5、ing模型等。3加速因子的計算加速因子的計算加速環(huán)境試驗是一種激發(fā)試驗，它通過強化的應力環(huán)境來進行可靠性試驗。加速環(huán)境試驗的加速水平通常用加速因子來表示。加速因子的含義是指設備在正常工作應力下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比，通俗來講就是指一小時試驗相當于正常使用的時間。因此，加速因子的計算成為加速壽命試驗的核心問題，也成為客戶最為關心的問題。加速因子的計算也是基于一定的物理模型的，因此下面分別說明常用應力的加速因子的計算方法。3.1溫度