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1、<p><b> 中文1750字</b></p><p> 出處:Precision Electromagnetic Measurements Digest, 2000 Conference on. IEEE, 2000: 355-356</p><p><b> 畢業(yè)論文(設(shè)計(jì))</b></p><p>
2、<b> 英文翻譯</b></p><p> 原文標(biāo)題 DEVELOPMENT AND EVALUATION OF A HIGH RESOLUTION</p><p> MEASURING SYSTEM FOR A SWITCHING IMPULSE MEASUREMENT</p><p> 譯文標(biāo)題 高分辨率開關(guān)脈沖測(cè)量系統(tǒng)的發(fā)展
3、與評(píng)估 </p><p> 學(xué)生姓名 CCC 學(xué)號(hào) XXX1340031 </p><p> 專業(yè)年級(jí) X6電X一班 </p><p> 指導(dǎo)教師 XXX </
4、p><p> 二OXXX 年 四 月 十三 日高分辨率開關(guān)脈沖測(cè)量系統(tǒng)的發(fā)展與評(píng)估</p><p> Hong Tang Anders Bergman</p><p><b> 瑞典國(guó)家試驗(yàn)研究院</b></p><p> 摘要:本文介紹了開發(fā)高精確度和評(píng)價(jià)高壓脈沖波動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)。噪音度小于0.05%,峰值測(cè)量不確定性
5、的估計(jì)優(yōu)于M.1%;時(shí)間參數(shù)的測(cè)量比1%更好。</p><p><b> 引言</b></p><p> 帶有前端時(shí)間和半值時(shí)間為250/25000ps的高壓脈沖開關(guān)主要被用在工業(yè)高電壓和實(shí)驗(yàn)室從而用來測(cè)試和觀察高電壓設(shè)備的充電現(xiàn)象。IEC60060-2[1]要求一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)的峰值測(cè)量不確定度應(yīng)小于1%,時(shí)間參數(shù)測(cè)量不確定度不超過5%。在實(shí)際中,高電壓脈沖測(cè)量總是
6、與干擾問題,溫度上升,元件非線性度和大規(guī)模測(cè)量電路及執(zhí)行曲線中的附加參數(shù)有關(guān)。因此,即使對(duì)使用脈沖波動(dòng)(通常在頻率范圍為DC至5千赫)來改善測(cè)量系統(tǒng)的準(zhǔn)確性對(duì)工程師和電子計(jì)量來說都是難的SP(瑞典國(guó)家試驗(yàn)研究院)已經(jīng)發(fā)明了一個(gè)200kv的高精度脈沖波動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)。本文主要討論測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及執(zhí)行步驟等細(xì)節(jié)。</p><p><b> 測(cè)量系統(tǒng)的描述</b></p><p&
7、gt; 測(cè)量系統(tǒng)電路圖如圖1所示。大體上是一個(gè)RC型電路被用作分壓器。為了獲得恒定的高頻和低頻,測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)符合公式(1)條件:</p><p> R1C1=R2CLOW(1)</p><p> 組合低壓CLOW由低壓電容C2和測(cè)量系統(tǒng)中的其他電容組成。電阻R1和R2在電路中用于阻尼諧振。由于只有輸入電壓產(chǎn)生的短暫的電流,所以電阻負(fù)載不會(huì)過重,因此所需要電阻的電阻值相當(dāng)?shù)?。R是為了避
8、免高頻波動(dòng)而附加在測(cè)量電纜中,分壓器的低頻主要依靠電路中的電容。壓縮氣體圓柱配置電容C1被用作高壓電容器。壓縮氣體電容器的使用是為了保證它呈現(xiàn)出低tun6價(jià)值,低溫度系數(shù),鄰近效應(yīng)可以忽略不計(jì)。這提供了一個(gè)優(yōu)良的高頻性能非常明確的高壓電容器。NPO(也指COG)陶瓷低壓電容器C2的溫度系數(shù)小于為30ppm/"C。低電壓手臂端的低電壓對(duì)RC電路獲得好的測(cè)量結(jié)果具有重大的意義。因此電</p><p> 路
9、板的設(shè)計(jì)已經(jīng)盡最大的努力獲得低電感。盡可能確保所有組件和它們之間的聯(lián)系表現(xiàn)出低電感耦合。</p><p><b> 圖1 測(cè)量系統(tǒng)框圖</b></p><p> 圖2顯示了不同時(shí)間尺度的測(cè)量系統(tǒng)階躍響應(yīng)。從傳輸特性,穩(wěn)定時(shí)間計(jì)算為小于3.7ps的(比IEC60060-2</p><p> 的需要低10個(gè)百分點(diǎn)),響應(yīng)時(shí)間為430ns。一個(gè)
10、電纜分頻器頻率執(zhí)行帶寬可以達(dá)到50kHz。</p><p> 圖2 不同尺度測(cè)量系統(tǒng)階躍響應(yīng)</p><p> 惠普3458A控制計(jì)算機(jī)用于波形捕獲。DCV(直流電壓測(cè)量)模式用于數(shù)字化波形。Hp萬用表的輸入阻抗是10MQ的,頻率帶寬是30kHZ,以及垂直分辨率16位。在LabVIEW平臺(tái)開發(fā)了一個(gè)項(xiàng)目是用來控制萬用表,并分析捕獲的波形。</p><p> 分
11、壓器傳輸特性所造成的錯(cuò)誤</p><p> 階躍響應(yīng)測(cè)試是對(duì)一個(gè)脈沖測(cè)量系統(tǒng)評(píng)價(jià)的傳統(tǒng)方法。然而,有關(guān)階躍響應(yīng)方法的參數(shù)都不能直接用于評(píng)估測(cè)量系統(tǒng)的不確定性。為了對(duì)受階躍響應(yīng)而產(chǎn)生錯(cuò)誤的測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析,F(xiàn)IT和IFFT傳輸用于計(jì)算輸入輸出信號(hào)差。文件[3]提出了關(guān)于這種方法的詳細(xì)說明。表1根據(jù)圖2中描述的階躍響應(yīng)顯示了前面的時(shí)間投入與產(chǎn)出曲線。這表明,前面的時(shí)間變化Srj低于0.32%。在6V的峰值變化小于0
12、.005%。</p><p> 表1 投入與產(chǎn)出對(duì)比</p><p> 三個(gè)參數(shù)是用于表征開關(guān)脈沖,峰值,前半時(shí)間和中間價(jià)值時(shí)間.這里只對(duì)前時(shí)間的確定進(jìn)行了討論。在IEC60060-1的高峰時(shí)間定義為“實(shí)際的起源和當(dāng)電壓達(dá)到峰值時(shí)實(shí)例的時(shí)間間隔”。這兩點(diǎn)是很難精確地確定即使比瞬間脈沖具有較少的脈沖波動(dòng)噪聲和失真。此外,對(duì)理想的開關(guān)脈沖,對(duì)一個(gè)區(qū)間在瞬時(shí)值超過99%的高峰值的時(shí)間跨度,可
13、只要超過100微秒。它可能給測(cè)量曲線帶來相當(dāng)大的不確定性,如果峰值的噪音度只有1%。然而,時(shí)間參數(shù)可以有一個(gè)合適的雙指數(shù)曲線圖來確定。尤其是在脈沖波動(dòng)校準(zhǔn),一般來說,可以預(yù)料,因?yàn)橹挥幸粋€(gè)簡(jiǎn)單的電容負(fù)載存在良好的雙指數(shù)曲線圖。在我們的分析程序文件[4]產(chǎn)生一個(gè)近似函數(shù)是用來得到曲線的前時(shí)間值Tp</p><p> 其中T是時(shí)差之間的時(shí)間上升到30%和90%的高峰值,T2到峰值的一半時(shí)間時(shí)的實(shí)際起源時(shí)間。從公式(
14、2)得出,前端時(shí)間和雙指數(shù)曲線最大相對(duì)誤差小于0.02%。(在IEC的建議方法中,誤差小于1.5%)</p><p><b> 錯(cuò)誤預(yù)算</b></p><p> 測(cè)量系統(tǒng)(k=2時(shí))的峰值測(cè)量估計(jì)總不確定度優(yōu)于0.1,干涉度為0.5的情況下時(shí)間參數(shù)測(cè)量總不確定度優(yōu)于1%。測(cè)量系統(tǒng)的不確定性因素(k=2時(shí)),可以概括為:</p><p>
15、 由可視為分隔造成此錯(cuò)誤的偏移量,并應(yīng)添加到線性擴(kuò)展不確定度。</p><p> 由分壓器造成的誤差可以看作是一個(gè)偏移量而且應(yīng)該被線性加入擴(kuò)展不確定度[3]。</p><p> 可以觀察到的不確定因素主要是由波形波動(dòng)產(chǎn)生的,而不是由測(cè)量?jī)x器的不確定性產(chǎn)生的。測(cè)量曲線的干涉度對(duì)測(cè)量精度有著巨大的影響,必須在一些波動(dòng)之間進(jìn)行執(zhí)行測(cè)試。</p><p><b&g
16、t; 結(jié)論</b></p><p> 壓縮氣體電容結(jié)合特制低壓臂脈沖測(cè)量系統(tǒng)具有良好的特點(diǎn)。一個(gè)高分辨率萬用表和一段新的執(zhí)行程序使測(cè)量系統(tǒng)的高精確度成為可能。</p><p><b> 參考文獻(xiàn):</b></p><p> [1] IEC 60060-2, High voltage test techniques, part
17、 2,measuring system, 1994-1 1.</p><p> [2] E.Kuffe1, W.S.Zaeng1:High Voltage Engineering,Fundamentals,Pergamon Press, Oxford, 1988.</p><p> [3] Hong Tang, Anders Bergman: "Uncertainty Cal
18、culation for an Impulse Voltage Divider Characterised by Step Response",1 1" International Symposium on High Voltage Engineering,London,UK,August 1999.</p><p> [4] Wakimoto Takayuki, Sat0 Shuji an
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